UV紫外老化試驗箱就可以再現戶外需要數月或數年才能產生的破壞，包括褪色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強度下降及氧化等老化情況。通過快速、真實地再現陽光、雨、露對材料的損害，提供的可靠數據可對產品的耐候（抗老化）性做出準確的相關性預測，并有助于材料及配方的篩選、

防塵試驗箱用于檢測產品的外殼密封性能，主要用于外殼防護等級標準中規定的IP5X和IP6X兩個等級的試驗。

紫外光加速老化試驗箱在涂料、油墨、塑料、電子電器等行業都廣泛的應用。只需要幾天或幾周時間就可以再現戶外需要數月或數年才能產生的破壞，包括褪色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強度下降及氧化等老化情況。通過快速、真實地再現陽光、雨、露對材料的損害，可對產品的耐候（抗老化）性做出準確的相關性預測，并有助于材料及配方的篩選、優化。

氙燈耐氣候老化試驗箱采用能摸擬全陽光光譜的氙弧燈來再現不同環境下存在的破壞性光波，可以為科研、產品開發和質量控制提供相應的環境模擬和加速試驗。 SN型氙燈試驗箱可用于新材料的選擇、改進現有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環境條件下，材料暴露在陽光下所產生的變化。

PCT蒸煮壽命試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。